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南通WP中低压mos来电垂询「炫吉电子」

来源:炫吉电子 更新时间:2025-03-20 17:38:14

以下是南通WP中低压mos来电垂询「炫吉电子」的详细介绍内容:

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公司成立于2013年7月,专注从事单片机的应用开发及生产,并提供全系列中低压MOS及电源、锂电IC等的销售,在LED及小家电等消费类电子产品上应用广泛,为您量身定制适合的芯片方案。

有些场效应管的源极和漏极可以互换使用,栅压也可正可负,灵活性比晶体管好。场效应管能在很小电流和很低电压的条件下工作,而且它的制造工艺可以很方便地把很多场效应管集成在一块硅片上,因此场效应管在大规模集成电路中得到了广泛的应用。

在一般电子电路中,通常被用于放大电路或开关电路。而在主板上的电源稳压电路中,MOSFET扮演的角色主要是判断电位,它在主板上常用“Q”加数字表示。

MOS管FET栅源保护:

1)避免 栅极 di/dt 过高

因为选用驱动集成ic,其输出阻抗较低,直推功率管会造成推动的功率管迅速的开启和断连,有可能导致功率管漏源极间的工作电压波动,或是有可能导致功率管遭到过高的 di/dt 而造成误通。为预防以上问题的产生,一般在 MOS 控制器的导出与 MOS 管的栅极中间串连一个电阻器,电阻器的尺寸一般选择几十欧母。

2)避免 栅源极间过压

因为栅极与源极的特性阻抗很高,漏极与源极间的工作电压基因突变会根据极间电容藕合到栅极而造成非常高的栅源顶i峰工作电压,此工作电压会使非常薄的栅源空气氧化层穿透,与此同时栅极非常容易累积正电荷也会使栅源空气氧化层穿透,因此,要在 MOS 管栅极串联稳压极管以限定栅极工作电压在稳压极管值下,保护 MOS 管不被穿透。

3)安全防护漏源极中间过压

尽管漏源击穿电压 VDS 一般都非常大,但假如漏源极不用保护电路,一样有可能由于器件电源开关一瞬间电流量的基因突变而造成漏极顶i峰工作电压,从而毁坏 MOS 管,功率管电源开关速率越快,造成的过压也就越高。为了更好地避免器件毁坏,一般选用齐纳二极管钳位和 RC 缓存电路等保护对策。

MOS管失效的两个主要原因:

电压失效:即漏源间的BVdss电压超过MOS管额定电压,达到一定容量,造成MOS管失效。

栅电压故障:栅极遭受异常电压尖峰,造成栅氧层故障。

雪崩破坏到底是什么?简单地说,MOS管是由母线电压、变压器反射电压、漏感尖峰电压等与MOS管之间叠加而形成的故障模式。简而言之,即MOS管漏源极的电压超过了它规定的电压值,并且达到了某一能量极限i时所产生的常见故障。

造成栅电压异常高的主要原因有三个:生产、运输和装配过程中的静电;设备和电路寄生参数在电力系统运行过程中产生高压谐振;在高压冲击时,高压通过Ggd传输到电网(雷击测试时这种故障更为常见)。

公司成立于2013年7月,专注从事单片机的应用开发及生产,并提供全系列中低压MOS及电源、锂电IC等的销售,在LED及小家电等消费类电子产品上应用广泛,为您量身定制适合的芯片方案。

     无论是NMOS或是PMOS,导通后都会有导通电阻,使得电流在电阻上耗费一定的电能,这种耗费叫做导通耗损。这时我们只要挑选导通电阻小的MOS管就可以减少导通耗损,如今的小功率MOS管导通电阻一般也就几十毫欧的样子,甚至几毫欧的都有。MOS在导通和截至的情况下,并不是在一瞬间完成的。

      MOS两边的电压有一个降低的过程,流过的电流则有一个升高的过程,在这段时间内,电压和电流相乘即是MOS管的损耗大小。一般开关的损耗要比导通的损耗要大很多,并且要是开关頻率越高,损耗就越大。导通瞬间的电压和电流相乘的数值越大,导致其损耗也越大。如果我们能减少开关时间,就能够减少每次导通时的损耗,减少开关的频率,也就能够减少一定时间内开关的频次,从而做到减少开关损耗。

以上信息由专业从事WP中低压mos的炫吉电子于2025/3/20 17:38:14发布

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